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專注光譜傳感和光電應用系統(tǒng)
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LiSpec-HS 系列高靈敏度光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）光譜儀系列中基于面陣 2048 像素BT-CCD/CMOS 探測器開發(fā)而來的明星產(chǎn)品。該系列光譜儀是一款成功地把紫外可見近紅外高量子效率和高測量速度相結(jié)合的高靈敏度光譜儀，其獨有的消雜散光技術、降噪電路控制技術、再加上出眾的高量子效率探測器性能，使光譜儀的靈敏度、信噪比得到極大的提升...
LiSpec-HS 系列高靈敏度光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）光譜儀系列中基于面陣 2048 像素 BT-CCD探測器開發(fā)而來的明星產(chǎn)品。該系列光譜儀是一款成功地把紫外可見近紅外高量子效率和 高測量速度相結(jié)合的高靈敏度光譜儀，其獨有的消雜散光技術、降噪電路控制技術、再加上出眾的高量子 效率探測器性能，使光譜儀的靈敏度、信噪比得到極大的提升。LiSpec-HS 系列高靈敏度光譜儀在 200-1100nm 波段的靈敏度較為出眾，非常適用于紫外輻射光譜、熒光測量、透反射測量等應用。
LiSpec-HS 系列高靈敏度光譜儀采用了消雜散光技術，優(yōu)化的光路設計，在測量透反射準確度非常接 近大型分光光度計光譜數(shù)據(jù)，其關鍵優(yōu)勢包括：低噪聲電路、低抖動觸發(fā)、同時可以搭配萊森光學多種附 件，如光源、反射探頭、熒光吸收比色皿支架、積分球、準直鏡頭、漫反射標準板等實現(xiàn)多種光譜方案應 用，并且且可以采用不同的狹縫，光柵線上數(shù)，實現(xiàn)不同的波長范圍和光學分辨率。同時該款光譜儀支持 多種觸發(fā)方式，支持二次開發(fā)，并可提供個性化全方位的定制服務。
光譜范圍200-1100nm, 自由更換狹縫、多種光學附件、拓展靈活
采用了面陣2048像素BT-CCD探測器，紫外可見近紅外光譜響應量子效率高、動態(tài)范圍寬
獨有消雜散光技術、降噪電路控制技術、信噪比靈敏度高
LiSpecView全功能光譜測試軟件，提供透反射、絕對輻射、拉曼、吸光度、激光功率、顏色測量等多種測量模塊
備注：其它波長范圍可以按用戶要求定制
拉曼測量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強得多，拉曼光譜儀通常測定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測量相對熒光信號會更弱一個數(shù)量級，通常我們在針對微弱拉曼信號測量我們要進行表面拉曼增強（SERS）的方法來提高拉曼信號SERS。
萊森光學的光纖光譜儀因其極高的靈敏度和高信噪比的特點，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進行對微弱光譜信號的拉曼測量應用，廣泛應用于食品安全、化學實驗室、生物及醫(yī)學等光學方面領域，研究物質(zhì)成分的判定與確認；還可以應用于刑偵中對毒品的檢測及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。
顏色測量
輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標準。輻射測量一般要通過已知光譜能量分布的標準光源，對光譜儀系統(tǒng)進行絕對輻射標定，才能通過量化參數(shù)進行輻射測量。輻射能量與人眼視覺相關聯(lián)（光度學），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測量定義輻射度學參數(shù)、光度學參數(shù)、色度學參數(shù)。輻射度學參數(shù)主要以輻照度μW/cm2、輻亮度μWatt/sr、輻射通量μWatt以及光子數(shù)μMol/s/m2，μMol/m2，μMol/s和μMol，光度學參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強度Candela，色度學參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等。
輻照度測量
色度測量
光譜儀測量吸光度的方法是將某一波長的平行光通過一塊平面平行物體，對透過物體的光束進行檢測。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測的入射光的強度要高于透過樣品的光強。吸光度被廣泛運用于液體和氣體的光譜測量技術中，可以對物質(zhì)進行定量鑒別或指紋認證等，還可以將該應用集成到工業(yè)應用環(huán)境和客戶所關注的測試中。
使用萊森光學模塊化光譜儀，可針對特定的吸光度測量來選擇不同波長范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實驗室或者現(xiàn)場，對整套光學測量裝置進行快速配置。可以基于萊森光學優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進行靈活易用的搭配，針對不同的吸光度試驗搭配出多種配置選擇。
液體吸光度
氣體吸光度
薄膜測量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學函數(shù)被計算出薄膜厚度。對于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計算出它的物理厚度。測量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達1 nm。薄膜測量應用于半導體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。
隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴格，利用光纖光譜儀進行快速準確的透/反射光譜的測量技術也日益成熟。透/反射光譜測量是光譜測量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測量支架、標準參比樣品、和測量軟件等設備。對于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會演化為更多的形式。
光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點，已經(jīng)成功的廣泛應用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測試。萊森光學為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設備，利用這些配置豐富的設備，即可搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。
反射測量
透射測量
熒光物質(zhì)在特定波長的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測量靈敏度高、選擇性強、樣品用量少、方法簡便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點，所以在工程應用中有著廣泛的應用，如在食品加工過程中用于食品安全的監(jiān)測、生物醫(yī)學中用于病變的熒光診斷、地質(zhì)學中用于石油礦物勘探、土壤礦物成分的測定以及物質(zhì)中微量元素的檢測等等。
熒光光譜測量通常需要高靈敏度的光譜儀。對于大多數(shù)熒光應用來說，產(chǎn)生的熒光能量只相當于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長長，而且一般都是在各個方向上輻射能量的散射光。萊森光學光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長范圍和分辨率設計，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測量系統(tǒng)。
